Paraiškos būsena:
Baigtas įgyvendinti
Vystantis nanotechnologijoms, reikalingi prietaisai ir metodai, kurių pagalba nanometrinėje skalėje galima būtų įvertinti paviršiaus savybes. Paviršių vizualizavimui taikomi mikroskopiniai tyrimo metodai: optinė mikroskopija, lazerinis skenavimas, skenuojantis elektroninis mikroskopas, joninis mikroskopas ir skenuojantieji zondiniai mikroskopai (SZM). SZM metodai apima platų spektrą paviršiaus vaizdinimo metodų — STM, AJM, skenuojančią optinę artimo lauko mikroskopiją, skenuojančią talpos mikroskopiją ir daugelį kitų metodų. Kelvino zondo jėgos mikroskopijos (KZJM) metodas naudojamas tirti saulės elementų medžiagų elektrinių savybių tyrimuose, tranzistorių savybių tyrimuose, p-n sandūrų vertinime, įvairių puslaidininkinių medžiagų ir plėvelių tyrimuose ir t.t. KZJM metodo paplitimo priežastis – nedestruktyvus ir greitas būdas atvaizduoti paviršiaus išlaisvinimo darbo pasiskirstymą realioje erdvėje.
Paraiškų informacija
Paraiškos gavimo data:
2018-03-08
| Nr. Vertinimo kriterijus |
Finansavimo statusas |
Vertinimo balas |
|
1. Tinkamumo vertinimas
|
Taip
(2018-06-14)
|
|
|
2. Naudos ir kokybės vertinimas
|
Taip
(2018-06-14)
|
76.00
|
Paraiškoje nurodyta projekto vertė:
1 893,07 Eur
Prašoma finansavimo suma:
1 893,07 Eur
Sutarties informacija
Projekto veiklų įgyvendinimo pabaiga:
2018-08-31
Sutarties pasirašymo diena:
2018-07-02
Sutarties galiojimo pabaiga:
2018-12-14
| Projekto išlaidų suma, Eur |
Finansavimas, Eur |
Apmokėta išlaidų suma, Eur
|
Išmokėtas finansavimas, Eur
|
|
1 877,93
|
1 877,93
|
1 877,93
|
1 877,93
|
Stebėsenos rodiklių pasiekimai
| Eilės numeris |
Stebėsenos rodiklio pavadinimas |
Matavimo vienetas |
Siektina reikšmė pasirašytose projektų sutartyse |
Pasiekta reikšmė |
|
1
|
Tyrėjai, kurie dalyvavo ESF veiklose, skirtose mokytis pagal neformaliojo švietimo programas
|
Skaičius
|
1.00
|
1.00
|
Statistika
|
Paskutinė atnaujinimo data: 2026-02-28 07:52
