Paraiškos būsena:
Nesudaryta sutartis
Vystantis nanotechnologijoms, reikalingi prietaisai ir metodai, kurių pagalba nanometrinėje skalėje galima būtų įvertinti plonų sluoksnių paviršiaus savybes. Paviršių vizualizavimui taikomi mikroskopiniai tyrimo metodai: optinė mikroskopija, skenuojantis elektroninis mikroskopas, lazerinis skenavimas, joninis mikroskopas ir skenuojantieji zondiniai mikroskopai (SZM), kurie apima platų spektrą paviršiaus vaizdinimo metodų — skenuojanti tunelinė mikroskopija, atominių jėgų mikroskopija, skenuojančią optinę artimo lauko mikroskopiją, skenuojančią talpos mikroskopiją ir daugelį kitų metodų. Pastaruoju metu dėl nedestruktyvumo ir greito būdo atvaizduoti paviršiaus išlaisvinimo darbo pasiskirstymą realioje erdvėje, ypatingo dėmesio sulaukė Kelvino zondo jėgos mikroskopijos metodas, kuris naudojamas tirti saulės elementų medžiagų elektrinių savybių tyrimuose, p-n sandūrų vertinime, tranzistorių savybių tyrimuose, įvairių puslaidininkinių medžiagų ir plėvelių tyrimuose ir t.t. Šiame praktikos darbe studentė atliks skenuojančio zondo mikroskopijos metodo teorinę analizę, išsamiai paliečiant atominių jėgų bei Kelvino zondo jėgos mikroskopijas, kurių veikimo principai yra ir daugelio kitų SZM metodų pagrindai. Praktinėje dalyje su KZJM metodu bus atlikti plonų sluoksnių paviršiaus matavimai, gautos paviršiaus morfologijos apdorojimas ir rezultatų apibendrinimas.
Paraiškų informacija
Paraiškos gavimo data:
2021-05-04
| Nr. Vertinimo kriterijus |
Finansavimo statusas |
Vertinimo balas |
|
1. Tinkamumo vertinimas
|
Taip
(2021-07-20)
|
|
|
2. Naudos ir kokybės vertinimas
|
Ne
(2021-07-20)
|
30.00
|
Paraiškoje nurodyta projekto vertė:
2 655,26 Eur
Prašoma finansavimo suma:
2 655,26 Eur
Sutarties informacija
| Projekto išlaidų suma, Eur |
Finansavimas, Eur |
Apmokėta išlaidų suma, Eur
|
Išmokėtas finansavimas, Eur
|
|
|
0,00
|
|
|
