Finansavimas

Dauguma šiuolaikinių optoelektroninių prietaisų yra daromi iš skirtingo tipo medžiagų. Tokio tipo sandūrose atsiranda, taip vadinami, laidumo ir valentinės juostos trūkiai. Jų dėka formuojamos kvantinės duobės, jie sudaro potencialinius barjerus puslaidininkyje esantiems krūvininkams. Todėl projektuojant puslaidininkinius prietaisus šių dydžių žinojimas yra labai svarbus. Šio projekto tikslas – sukurti tokią metodiką, kuria būtu galima nustatyti laidumo juostos trūkio energiją dviejų skirtingų puslaidininkių sandūroje. Kadangi THz impulsų generaciją yra smarkiai įtakojama puslaidininkio juostinės sandaros, įvairių barjerų ir elektrinių laukų susidarančių judviejų sandūroje, ji gali būti efektyviai panaudota puslaidininkių ir jų darinių tyrimams. Šiame darbe bus pasinaudota THz sužadinimo spektroskopijos metodu minėtiems dydžiams nustatyti. Pradžioje, siekiant atskirti laidumo juostos šoninio slėnio ir laidumo juostos trūkio įtaką THz sužadinimo spektre, bus nustatyta tiriamų puslaidininkių laidumo juostos šoninio slėnio energija didelio storio puslaidininkiniuose sluoksniuose. Tikėtina, kad bandinyje esantys elektriniai laukai gali smarkiai įtakoti eksperimento rezultatus, todėl kitame etape bus paruošti bandiniai, kuriuose paviršinis ir heterosandūroje esantys elektriniai laukai būtų minimalus arba jų įtaką eksperimento rezultatams būtų maža. Tai atlikus bus pereita prie kito, paskutinio etapo, kuriame bus nustatytas laidumo juostos trūkis tiriamų medžiagų heterosandūroje bei išsiaiškinta, kaip šis dydis priklauso nuo papildomų atomų kiekio.